


在工业应用中,传感器的可靠性直接关系到设备运行的稳定性与测量数据的准确性。灌封胶作为保护传感器电路和敏感元件、防止潮气与机械应力侵入的重要材料,其性能对传感器寿命影响显著。然而,实际使用环境常常伴随较大的温度波动——日夜温差、季节性变化或设备自身发热与冷却循环——这会导致灌封层产生热胀冷缩,从而出现开裂甚至脱层,进而引发电气短路、信号漂移或失效。面对灌封胶因温度落差过大开裂的问题,应从原因诊断、工艺优化、材料选择和修复对策四个方面综合施策。
一、原因诊断:明确裂纹成因是关键
出现开裂通常由以下几类原因引起:
- 热膨胀系数不匹配:灌封胶与传感器基体(塑料、金属、陶瓷等)或内部元件(芯片、电阻、电容)之间的线性膨胀系数差异较大,循环温度变化会产生剪切应力,导致界面或胶体内部裂纹。
- 模量与韧性不足:高模量、低断裂伸长率的灌封材料在受温度冲击时缺乏缓冲能力,易发生脆性断裂。
- 固化应力与残余应力:不当的固化工艺(如温度过高、固化速度过快)会在灌封过程中产生较大内应力,长期在温度循环下释放并诱发裂纹。
- 湿热促进老化:水分或化学物质渗入使胶体界面弱化或发生水解、塑化,降低胶的机械强度和粘接力。
因此,首先应对失效样品进行宏观与微观观察(裂纹位置、走向、是否沿界面扩展)、力学与热性能测试(热膨胀系数、玻璃化温度Tg、拉伸/断裂伸长率)和材料化学分析,以确证主因。

二、工艺优化:降低内应力与改进应力分布
- 合理控制固化曲线:采用更温和的固化工艺(逐步升温或更低的固化峰值温度)可减少热应力积累和缩减产生的残余应力。若条件允许,可采用室温固化或双步固化(先室温预固化再低温后固化)。
- 采用缓冲结构设计:在传感器结构上引入弹性缓冲层或几何减压设计(如设置应力释放槽、避开应力集中点)可有效分散热胀冷缩引起的局部应力。
- 控制灌封厚度与均匀性:避免一次性大体积灌封,分层灌封或采用更均匀的填充方式可减小体积收缩差异,降低裂纹发生概率。
- 表面预处理与界面粘接增强:对待封表面进行清洁、等离子处理或使用适配性底涂增强粘接强度,从而降低界面剥离风险。
三、材料选择:优先采用热适应性与韧性兼备的灌封胶
材料是长期抗温度循环开裂的根本。选择灌封胶时应关注以下关键性能:低弹性模量(提高柔韧性)、高断裂伸长率(抗裂能力)、与基底相近或可调的线膨胀系数、较高的耐热稳定性和抗湿热老化能力。对于需要在较大温差或长期冷热循环环境下工作的传感器,建议使用具有优异综合性能的环氧或硅烷改性环氧灌封材料。
在此推荐采用8260N环氧灌封胶。该产品特点包括:

- 低内应力固化体系:固化过程中收缩和残余应力较小,降低开裂风险。
- 良好的柔韧性和粘接性:适配多种基材,能在温度循环下保持界面完整性。
- 宽温度适应范围:耐热性和低温韧性兼顾,适用于日夜温差大和冷/暖循环频繁的应用场景。
- 抗湿热与化学稳定性较好:在潮湿或化学侵蚀环境下老化慢,长期可靠性高。
四、修复与防范措施
对于已经出现裂纹的传感器,可根据裂纹程度采用不同修复策略:
- 表面裂纹且未影响功能:可采用低粘度、低模量的补胶材料进行局部注填并再固化,以恢复密封性与应力分布。
- 深入或贯穿裂纹、界面脱离:建议拆除灌封层、清理残留物并重新灌封。拆封时需注意不损伤内部元件,并对基体表面进行充分表面处理以恢复粘接性。
- 大面积或反复失效:应回溯工艺与材料选择,结合热循环试验数据重新设计或更换为更适合温度冲击的灌封体系。
传感器灌封胶因温度落差过大而开裂,是材料性能、界面粘接、固化工艺与结构设计共同作用的结果。要有效应对,应首先开展失效分析,明确裂纹成因;随后通过优化固化工艺、改进结构设计、增强表面处理来降低内应力与应力集中;在材料层面,优先选用低内应力、柔韧性好并耐湿热的灌封胶。对于多数需承受宽温度范围和循环温差的传感器应用,推荐采用性能优越的环氧灌封材料,如8260N环氧灌封胶,配合恰当的工艺与验证,可显著降低因温差引起的开裂风险并提升长期可靠性。


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